【ご案内】東大物性研究所短期研究会「顕微分光とナノサイエンスの発展」

supersor @ issp.u-tokyo.ac.jp supersor @ issp.u-tokyo.ac.jp
2010年 1月 12日 (火) 12:57:00 JST


VUV・SX高輝度光源利用者懇談会
会員の皆様


メーリングリストを使って送っております。再度受け取られた方は御容赦く
ださい。

2月22日(月)23日(火)に、東大物性研に於きまして短期研究会「顕微分
光とナノサイエンスの発展」を開催いたします。講演予定者と講演題目(仮題)は以
下の通りで、是非、皆様方にも御参加いただければと思い、御案内を差し上げる次第
です。
詳細はWEBサイトをご覧ください
(http://hasegawa.issp.u-tokyo.ac.jp/NanoImageISSP.htm )。

越川 孝範(大阪電通大)LEEM/PEEMを用いた表面動的観察の新しい展開
小野 輝男(京大化研)ナノスピントロニクスと顕微分光への期待
宗像 利明(阪大理)レーザー光電子顕微鏡
石原 一(大阪府大工)光電磁場と物質波動関数の空間的インタープレイに基づく光
学現象
上原 洋一(東北大通研)走査型トンネル顕微鏡発光による表面ナノ物性の計測
大西 洋(神戸大理)固液界面のAFM力学分光
藤井 稔(神戸大工)顕微ラマン分光法によるシリコンナノワイヤーの不純物分布評
価
本久 順一(北大情報科学)化合物半導体ナノワイヤの作製と光学評価
松田 一成(京大化研)イメージング分光による半導体量子ナノ構造の物性探索
奥田 太一(広大HiSOR)放射光STM、その現状と今後の展望
齋藤 彰(阪大工)放射光STMによる固体表面のナノスケール元素分析
石井 真史(物材機構)放射光アシストプローブ顕微鏡 静電容量・静電気力を使っ
た化学マッピングと吸収分光
堀場 弘司(東大工)東大アウトステーション三次元ナノESCAによるピンポイント解
析;現状と展望
熊谷 和博(物材機構)低加速電圧SEMの二次電子検出とチタニア薄膜観察への応用
池本 夕佳(JASRI)赤外放射光を用いた近接場分光装置の開発
池永 英司(JASRI)硬X線を用いた走査型顕微光電子分光
渡辺 健太郎(東大工)STM-EL分光法によるGaAs系ダブルへテロLED構造の局所評価
新井 邦明(東大物性研)光電子顕微鏡によるNiO反強磁性磁壁内スピン構造の観察
小谷 佳範(高エネ研)二次元ナノ材料のためのX線分光法の開発とその応用

また、22日午後にポスターセッションを行います。皆様あるいは研究室の
方々にも、是非奮って発表していただければと思います。予算の許す限りですが、ポ
スター発表者への旅費支給も可能です。申し込み方法等、詳細はWEBサイトをご覧
ください(http://hasegawa.issp.u-tokyo.ac.jp/NanoImageISSP.htm )。

よろしくお願いいたします。
東京大学物性研究所 長谷川幸雄


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Yukio Hasegawa, Rm. A317, Division of Nanoscale Science, Institute for
Solid
State Physics, The University of Tokyo 5-1-5, Kashiwa-no-ha, Kashiwa,
Chiba
277-8581, JAPAN
tel: 81-(0)4-7136-3325 (dial-in) or 81-(0)90-2640-6375
fax: 81-(0)4-7136-3326, e-mail: mailto:hasegawa @ issp.u-tokyo.ac.jp
homepage: http://hasegawa.issp.u-tokyo.ac.jp//
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